سنتز نانوسیم های مغناطیسی به روش الکتروانباشت (اثر لایه سدی) ونقش برهمکنش های جفت کوپر سطحی بر دمای بحرانی ابررساناهای لایه نازک
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه رازی - دانشکده علوم
- نویسنده مژگان نجفی
- استاد راهنما محمد الهی داود نعمت الهی
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1388
چکیده
دو نانوساختار متفاوت، نانوسیم های مغناطیسی و فیلم های خیلی نازک ابررسانا در این پایان نامه بررسی شده است . نانوسیم های مغناطیسی در بخش اول پایان نامه آلومینای حفره دار آندی با ساختار منظم تحت شرایط آندایز مناسب تهیه شده است. نانوسیم های کبالت با استفاده از آلومینای حفره دار آندی به عنوان قالب به روش الکتروانباشت ساخته شده اند. اثر ولتاژ، فرکانس ، شکل موج الکتروانباشت و میدان مغناطیسی خارجی در هنگام الکتروانباشت روی خواص مغناطیسی نانوسیم های کبالت بررسی شد. در طی نیم سیکل کاتدی با افزایش پتانسیل کاتدی الکترون ها در لایه سدی نازک (بضخامت 10 نانومتر) تونل می زنند و الکتروانباشت نانوسیم های کبالت در قالب اتفاق می افتد. خواص مغناطیسی نانوسیم های کبالت نشان می دهد که ناهمسانگردی شکل در نانوسیم ها ناهمسانگردی غالب است و محور آسان مغناطش در راستای سیم ها است. با افزایش فرکانس الکتروانباشت تا 1000هرتز وادارندگی نمونه ها تا1750 اورستد و همچنین مربعی بودن از 0/65 برای تا 0/95 به ترتیب برای نمونه های تهیه شده در 50 و1000 هرتز افزایش می یابد. هرچند با افزایش فرکانس، جریان irms زیاد می شود ولی آهنگ رشد نانوسیم ها کاهش می یابد . اندازه کبالت الکتروانباشت شده به تفاوت بین نیم سیکل آندی و کاتدی جریان الکتروانباشت بستگی دارد. در فرکانس های بالاتر نیم سیکل های متقارن تر و تونل زنی الکترون ها کمتر و در نتیجه ماده کمتری الکتروانباشت می شود. نانوسیم های آلیاژ کبالت–آلومینیوم درقالب های آلومینای آندی به روش الکتروانباشت ساخته شده اند. اثر فرکانس، درصد غلظت ناخالصی آلومینیوم در آلیاژ کبالت–آلومینیوم و عملیات تابکاری نمونه ها روی خواص مغناطیسی نانوسیم ها بررسی شد. وادارندگی 1800 اورستد و مربعی بودن 0.95 برای نمونه ده درصد ناخالصی آلومینیوم که در فرکانس هرتز ساخته شده و سپس در 400درجه سانتی گراد تابکاری شده است بدست آمد. این آلیاژ برای استفاده در ساخت حافظه های مغناطیسی ظرفیت بالا بسیار مناسب است. رفتار لایه سدی در طی فرایند الکتروانباشت با مدار الکترونیکی متوالی از سه قسمت مقاومت محلول و یک مدار موازی از مقاومت و ظرفیت برای فصل مشترک لایه سدی – الکترولیت و یک مدار موازی از مقاومت و ظرفیت و دیود زنر برای لایه سدی شبیه سازی شد و تطابق بسیار خوبی با نتایج تجربی دارد و رفتار لایه سدی را بخوبی توضیح می دهد. وقتی دیود زنر در بایاس معکوس با تونل زنی الکترون ها شکسته می شود، الکتروانباشت در حفره ها صورت می گیرد.فیلم های خیلی نازک ابررسانا در بخش دوم پایان نامه ابررسانایی فیلم های نازک سرب روی زیر لایه سیلیسم در رژیم برهم کنش ضعیف بررسی شد و رفتار نوسانی دمای بحرانی آنها نسبت به ضخامت فیلم – تعداد لایه های اتمی- که بطور تجربی دیده شده بود توضیح داده شد. برای این منظور برهم_کنش جفت کوپر را بصورت ترکیبی از برهم کنش جفت کوپر سطحی و حجمی در نظر گرفته شد. اثر برهم کنش سطحی که با ضخامت فیلم نسبت معکوس دارد در فیلم های خیلی نازک برهم کنش غالب است. نشان داده شده که ابررسانایی فیلم های نازک سرب در ضخامت هایی بین 50 تا 500 لایه اتمی از سیستم دوبعدی به سه بعدی گذار می کند و جمله برهم کنش حجمی بر جمله برهم کنش سطحی غالب می شود و رفتار ابررسانایی فیلم نازک به رفتار ابررسانی توده میل می کند.
منابع مشابه
رشد لایه های نازک ابررساناهای مسی دمای بالا
این مقاله پیشرفت فن آوریهای آماده سازی لایه های نازک hts را از روشهای مبتنی بر لایه نشانی بخار فیزیکی تا آخرین روشهای ارایه شده امروزی مرور می کند. مقاله شامل مسیرهای اصلی فرآیند در محل و کنترل رشد است. فعالیتهای جاری برای ساخت نوارهای مورد استفاده در کاربردهای توانی و نیز ساخت بهینه بین صفحه ای در کوپراتها مورد بحث قرار گرفته است. برخی از مسیرهای آتی در تحقیقات فیلمهای نازک hts, چه در علوم و چ...
متن کاملمدل سازی و شبیه سازی اثر دمای زیر لایه بر واکنش های سطحی در رشد فیلم نازک GaAs به روش تبخیر شیمیایی
در این کار، شبیه سازی رشد لایه ی نازکGaAs به کمک روش تبخیر شیمیایی در محیط نرم افزار COMSOL Multiphysics انجام گردیده است. به منظور مقایسه نتایج شبیه سازی با نتایج تجربی، تمامی جزییات شبیه سازی و واکنش های مربوط به تشکیل GaAs بر مبنای یک آزمایش تجربی و نتایج آن صورت گرفت.جزئیات مراحل تعریف واکنش ها، طراحی محفظه، مطالعه روابط شیمیایی و ترمودینامیکی مربوطه و تحلیل مش ها شرح داده شد. پارامتر هایی ...
متن کاملمقایسه ساختار و مورفولوژی لایه های نازک cu بر زیر لایه gaasدر روش های الکتروانباشت و الکترولس
در این تحقیق لایه های نازک مس بر زیرلایه ی نیم رسانای گالیوم آرسناید نوع n به دو روش الکتروانباشت و الکترولس رشد داده شدند. لایه های الکتروانباشت شده با مد جریان ثابت از ma 5 تاma30 و لایه های الکترولس شده در دماهای مختلف oc 25، oc77 تهیه شدند. ساختار و ریخت شناسی لایه ها به کمک دستگاه های xrd و sem مورد بررسی قرار گرفت. سپس پارامتر زبری لایه های الکتروانباشت شده در جریان های مختلف انباشت و هم ...
متن کاملاثر فرایند نازک سازی لایه سدی آلومینا بر روی خواص مغناطیسی و ساختار بلوری نانوسیم های کوانتومی کبالت
چکیده ندارد.
15 صفحه اولتأثیر دمای آنیل بر خواص ساختاری و مغناطیسی لایه نازک نئودمیوم آهن بور
In the present research NdFeB thin films coupled with buffer and capping layer of W were formed on Si/SiO2 substrate by means of RF magnetron sputtering. The system was annealed at vaccum at different temperatures of 450, 500, 550,. 600 and 650 °C Phase analysis was carried out by XRD and it was found that NdFeB was formed without the formation of any kind of secondary phase. The cross...
متن کاملبررسی اثر زمان لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های نازک N:ZnO
در این تحقیق لایههای نازک N:ZnO روی زیر لایه شیشه با استفاده از کندوپاش DC در فشار کاری Torr 2-10×2 در مخلوط گازهای آرگون و نیتروژن لایه نشانی شدند. ضخامت، ریختشناسی، ساختار کریستالی و خواص اپتیکی لایهها در سه زمان کندوپاش مختلف شناسایی شدند. با افزایش زمان لایه نشانی، ضخامت لایهها، زبری سطح و ارتفاع دانهها افزایش مییابد. لایهها دارای بافت قوی کریستالی در راستای (002) با ساختار هگزاگونال...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه رازی - دانشکده علوم
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023